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ZSX Primus III next，日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀X射線管位于分析樣品上方，減少了真空室內(nèi)飄散粉末損壞光管的風(fēng)險(xiǎn)，并且無(wú)需在進(jìn)行粉末樣品
偏振能量色散X射線熒光光譜儀SPECTRO-XEPOS德國(guó)傳統(tǒng)的光學(xué)技術(shù)與現(xiàn)代工藝的結(jié)合創(chuàng)造出多功能多用途的測(cè)試技術(shù)結(jié)合德國(guó)斯派克集三十年之大成的分析軟件演繹出高穩(wěn)定性及高靈敏度的全譜檢測(cè)儀器。$n偏振X射線能譜技術(shù)開創(chuàng)熒光分析的新紀(jì)元?jiǎng)?chuàng)新的光學(xué)系統(tǒng)，精彩繽紛，井井有條的檢出下限及穩(wěn)定性流暢的界面及專業(yè)的軟件包。
波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀WDA-3650用于薄膜評(píng)估的X射線熒光分析儀同時(shí)對(duì)各種薄膜的薄膜厚度和成分進(jìn)行無(wú)損、非接觸式分析。這是一種波長(zhǎng)色散X熒光光譜儀（WD-XRF），可以以非破壞性和非接觸方式同時(shí)分析尺寸達(dá)~200mm的晶圓上各種薄膜的厚度和組成。
日本理學(xué)連續(xù)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus 400專為處理非常大或重的樣品而設(shè)計(jì)，非常適合分析濺射靶材、磁盤，或用于多層薄膜計(jì)量或大型樣品的元素分析。
理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀Simultix 15是一種用于分析物質(zhì)成分的儀器。它利用X射線與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的特征性熒光輻射進(jìn)行分析。
德國(guó)斯派克X熒光光譜儀采用與斯派克公司高性能實(shí)驗(yàn)室用臺(tái)式熒光光譜儀相同的小型低能量的X射線管，保證了準(zhǔn)確的離子激發(fā)效果。特殊開發(fā)的SDD檢測(cè)器，數(shù)據(jù)采集速度10倍于傳統(tǒng)的檢測(cè)器，提高了儀器的分析靈活性。
斯派克 X熒光光譜儀 XEPOS技術(shù)參數(shù)內(nèi)部采用高性能部件，可獲得好的靈敏度和準(zhǔn)確性。采用偏振次級(jí)靶以確保*佳激發(fā)，12位樣品自動(dòng)交換器，預(yù)先安裝好的應(yīng)用軟件包和智能軟件模塊，使SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析儀。
